Блог Ленточки

ции элементов на поверхности излома от средней глубины слоя, удаленного ионным распылением
Рис. ID. 15. Оже-спектр вольфрама с излома по границе зерна (вверху) в с участка, удаленного на 30 мкм (внизу)
Исследования проводили на свежеприготовленных изломах, следовательно, в системах, которые можно хрупко разрушить по границам. Методом ОЭС и ионного распыления определяли глубину сегрегации. Было показано, что все примеси, в том числе Sb, Р, Sn, концентрируются в пределах очень узкой приграничной воны (1—4 атомных слоя) [10-36]—рис. 10.4. Степень обогащения обратно пропорциональна объемной концентрации и изменяется в широких пределах (табл. 10.2). В большинстве случаев степень развития отпускной хрупкости можно было прямо связать с сегрегацией на границах зерен (в первую очередь — фосфора и его химических аналогов: сурьмы, мышьяка и др.).